JIEBO Instrument · JIEBO-F7000
F7000 Pro — analizador LIBS portátil
El F7000 Pro es un analizador portátil basado en espectroscopia de plasma inducido por láser (LIBS) para identificación in situ y análisis rápido de aleaciones. A diferencia del XRF, LIBS usa un pulso láser enfocado para ablacionar una muestra microscópica y leer su espectro de emisión — mide elementos ligeros que el XRF no puede, incluidos berilio y magnesio, sin radiación ionizante.
Especificaciones
| Clase de láser | Class 3B laser, high-energy pulse (eye-safe in normal use) |
|---|---|
| Elementos analizados | Be, Mg, Al, Si, Ti, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, Bi, Mo, V, Nb, W |
| Tiempo de análisis | < 1 second per measurement |
| Peso | 1.25 kg (including battery) |
| Temperatura / humedad | Optical and mechanical safety switches required for activation |
Aplicaciones típicas
- Clasificación de aleaciones de aluminio donde importan los niveles de magnesio y silicio
- Detección de berilio en aleaciones de cobre (cribado de seguridad)
- Identificación de materiales de batería y química del litio
- Verificación de elementos ligeros en fundición y forja
- Reemplazo de XRF radiactivo en regiones con controles estrictos de importación
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Preguntas frecuentes
LIBS vs XRF — ¿cuál elegir?
LIBS mide elementos ligeros (Li, Be, Mg, Al, Si) que el XRF no. LIBS deja una marca minúscula de quemado mientras que el XRF es totalmente no destructivo. LIBS usa un láser — sin radiación ionizante — lo que simplifica el papeleo regulatorio en muchos mercados de exportación. XRF para identificación no destructiva de aleaciones pesadas; LIBS para precisión en elementos ligeros o implementaciones sensibles a radiación.
¿Qué tan pequeña es la marca del láser?
Sub-milímetro, comparable a una sola chispa OES. La mayoría de inspecciones de recepción y PMI lo tratan como no destructivo en la práctica.
¿Seguridad láser?
Clase 3B con varias salvaguardas: interruptor de seguridad mecánico/óptico exige contacto con la muestra antes de disparar, y el láser se colima automáticamente para limitar exposición ocular. Se recomienda capacitación estándar y gafas de seguridad.
¿Es lo bastante rápido para clasificación en producción?
Sí. Lecturas sub-segundo lo hacen competitivo con XRF portátil en ID de aleación, y más rápido en trabajo de elementos ligeros donde el XRF no cuantifica.