JIEBO Instrument · 11 production models
أجهزة طيف الانبعاث الضوئي ومحلّلات العناصر
تصنع JIEBO Instrument 11 موديلاً من الأجهزة التحليلية في ثلاث عائلات: مطيافيات OES بالشرارة، ومحلّلات عناصر بالاحتراق، ومحلّلات محمولة XRF و LIBS. كلّها صُنعت في ووشي، الصين، وصُدِّرت إلى أكثر من 40 دولة.
مقارنة الـ 11 موديلاً في لمحة
مواصفات رئيسية للترشيح السريع. انقر على أيّ اسم موديل لتظهر صحيفة المواصفات الكاملة والأسئلة الشائعة.
| الموديل | العائلة | الكاشف | الطول الموجي / النطاق | المصفوفات / العناصر | الوزن |
|---|---|---|---|---|---|
| Exquis T4 Optical Emission Spectrometer | OES | CMOS, sealed argon | 160–580 nm | Fe / Al / Cu / Zn · 50+ elements | 33 kg |
| Innovate T5 Optical Emission Spectrometer | OES | Hamamatsu CMOS, vacuum | 140–680 nm | 10 base matrices | 78 kg |
| Noble T7 Optical Emission Spectrometer | OES | Research-grade CMOS, ±0.1 °C | 120–800 nm | 10 base matrices · <10 ppm | 160 kg |
| JB-750 Optical Emission Spectrometer | OES | PMT array, vacuum | 120–800 nm | 10 base matrices · 750 mm focal | 256 kg |
| Surpass F1 Mobile Optical Emission Spectrometer | OES | Portable spark probe | 160–425 nm | UV: C / P / S / B / As / Sn / Se / N | 45 kg |
| CS2020 High-frequency Infrared Carbon & Sulfur Analyzer | تحليل عناصر | 4 IR cells, auto cleaning | IR — C/S | C/S: 0.00001 – 99.99 % | 110 kg |
| CS995 Carbon & Sulfur Analyzer | تحليل عناصر | 1 C + 1 S IR cell | IR — C/S | C: 0.0005 – 6 %; S: 0.0005 – 0.35 % | 115 kg |
| CS996 Carbon & Sulfur Analyzer | تحليل عناصر | Expandable IR cells | IR — C/S | C: 0.0001 – 10 %; S: 0.0001 – 2 % | 215 kg |
| ONH-508 Oxygen, Nitrogen & Hydrogen Analyzer | تحليل عناصر | NDIR + TCD | IR + TCD — O/N/H | O 0.5 ppm – 20 %; N 0.5 ppm – 50 %; H 0.2 ppm – 0.1 % | 160 kg |
| F6000 Pro Handheld XRF Analyzer | محمول | Si-PIN X-ray, 50 kV | X-ray fluorescence | Ti to U (alloy ID) | Handheld |
| F7000 Pro Handheld LIBS Analyzer | محمول | Class 3B laser plasma | LIBS broadband | Be, Mg, Al, Si, Ti, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu … | 1.25 kg |
مطيافيات الانبعاث الضوئي (5 موديلات)
Exquis T4 Optical Emission Spectrometer
جهاز Exquis T4 مطياف انبعاث ضوئي بالشرارة مكتبي مزوّد بغرفة بصرية بدورة أرغون مغلقة تقلّل استهلاك الغاز وتثبّت المسار البصري. كاشف CMOS متكامل منخفض الضوضاء يغطّي 160–580 نانومتر بحساسية عالية في الأشعة فوق البنفسجية للعناصر غير المعدنية (N و C و S و P)
Innovate T5 Optical Emission Spectrometer
الجهاز Innovate T5 هو مطياف انبعاث ضوئي بطيف كامل مزوّد بغرفة بصرية مفرّغة ومصدر إثارة رقمي قابل للبرمجة. يستخدم كاشفات CMOS من Hamamatsu تجمع بين اتساع طيف CCD وحدود الكشف المنخفضة الخاصة بـ PMT للعناصر غير المعدنية (الكربون والكبريت والفوسفور والبورون)، ممّا يجعله مناسباً للمسابك ومختبرات المعادن وضبط جودة التصنيع المعدني.
Noble T7 Optical Emission Spectrometer
الجهاز Noble T7 مطياف انبعاث ضوئي بطيف كامل بدرجة بحثية، مصمَّم لمسابك ومصاهر ومختبرات تعالج كميّات كبيرة من العيّنات المعدنية الصلبة. غرفة بصرية ثابتة الحرارة (±0.1 °م) تحافظ على ثبات الموضع الطيفي طوال الورديات الطويلة، ونافذة عريضة من 120 إلى 800 نانومتر توفّر النفاذ إلى العناصر النزرة بمستويات من جزء واحد إلى أجزاء قليلة في المليون — مفيد لمراقبة جودة الطيران وأبحاث المواد الجديدة واختبارات الاعتماد.
JB-750 Optical Emission Spectrometer
الجهاز JB-750 هو المطياف الأرقى لدى JIEBO المبني على أنابيب PMT لاعتماد درجة المعادن وتقييم الجودة بدقّة عالية. بصرية Paschen-Runge بطول بؤري 750 ملم وغرفة مفرّغة وخوارزمية تكامل نبضة الشرارة الفردية تمنحه دقّة طيفية ونسبة إشارة إلى ضوضاء على مستوى أنظمة PMT الألمانية الكلاسيكية، وبجزء يسير من تكلفتها.
Surpass F1 Mobile Optical Emission Spectrometer
الجهاز Surpass F1 مطياف انبعاث ضوئي متنقّل على عربة لاختبار موثوقية المواد المعدنية في الموقع. مع بطارية ليثيوم مدمجة وأسطوانة أرغون، ينقل التحليل إلى القطع الكبيرة أو الثابتة التي يتعذّر قطعها لإحضارها إلى المختبر — استلام الخردة وشبكات الأنابيب أثناء الخدمة وقضبان التسليح ومصبوبات ضخمة الأبعاد.
محلّلات العناصر (4 موديلات)
CS2020 High-frequency Infrared Carbon & Sulfur Analyzer
الجهاز CS2020 محلّل كربون وكبريت بالأشعة تحت الحمراء عالي التردّد ومؤتمت بالكامل، للصلب والخامات والمعادن النهائية والمواد غير العضوية. تغطّي أربع خلايا كشف فيزيائية النطاقات المنخفضة والعالية للتراكيز في جهاز واحد
CS995 Carbon & Sulfur Analyzer
الجهاز CS995 محلّل كربون وكبريت مكتبي بالأشعة تحت الحمراء عالي التردّد، يفصل بين الكاشف المكتبي وفرن الحثّ. مصمَّم لضبط جودة الإنتاج في المسابك ومصانع الصلب وسبائك الحديد، ويحلّل المعادن الصلبة وسبائك الحديد والخامات والتربة وثاني أكسيد التيتانيوم بدقّة موثوقة وبحجم يناسب أي طاولة QC.
CS996 Carbon & Sulfur Analyzer
الجهاز CS996 محلّل كربون وكبريت أرضي بالأشعة تحت الحمراء عالي التردّد بتصميم طاولة عمل تجمع الكاشف والفرن العمودي والميزان في محطّة واحدة. نطاق كشف أوسع (حتى 0.0001 %) وخلايا قابلة للتوسعة يجعلانه مناسباً للمصانع ذات أعباء العمل المختلطة الدرجات — من الصلب منخفض الكربون جداً إلى الحديد الزهر عالي الكربون — على نفس الجهاز.
ONH-508 Oxygen, Nitrogen & Hydrogen Analyzer
الجهاز ONH-508 يحلّل في وقت واحد الأكسجين والنيتروجين والهيدروجين في الصلب وسبائك الأتربة النادرة والنحاس والزركونيوم والتيتانيوم والسيراميك والمساحيق غير العضوية. يجمع بين الكشف بالأشعة تحت الحمراء البيروكهربائية (للأكسجين والهيدروجين) والكشف بالتوصيل الحراري (للنيتروجين)، ويعتمد طريقة الانصهار في غاز خامل داخل فرن نبضي بالأقطاب (حتى 3000 °م و1500 أمبير).
محلّلات محمولة (موديلان)
F6000 Pro Handheld XRF Analyzer
الجهاز F6000 Pro محلّل فلوريسنت أشعة سينية (XRF) محمول للتعرّف غير المتلف على درجة السبيكة والتركيب العنصري. أنبوب أشعة سينية بقدرة عالية 50 كيلوفولت وستّة مرشّحات تجميع قابلة للتبديل وكاشف Si-PIN، تحدّد العناصر من التيتانيوم إلى اليورانيوم في ثوانٍ — مختبر في الجيب لساحات الخردة وفحص الأنابيب والتحقّق من المعادن الثمينة.
F7000 Pro Handheld LIBS Analyzer
الجهاز F7000 Pro محلّل محمول قائم على تقنية تحلّل اللّيزر الطيفي (LIBS) للتعريف الميداني والتحليل السريع للسبائك. على عكس أنظمة XRF القائمة على الأشعة السينية، يستخدم LIBS نبضة ليزر مركّزة لاستئصال عيّنة مجهرية وقراءة طيف انبعاثها — فيقيس العناصر الخفيفة التي يعجز عنها XRF بما فيها البريليوم والمغنيسيوم، دون إشعاع مؤيِّن.
كيف تختار موديل JIEBO المناسب
أحتاج OES لمسبك إنتاجي — أيّ موديل؟
يغطّي Innovate T5 معظم المسابك الإنتاجية (10 مصفوفات وغرفة مفرّغة و78 كغ). استخدم Noble T7 إذا احتجت عناصر نزرة دون 10 ppm أو عملاً بحثياً. استخدم Exquis T4 لميزانية محدودة ومصفوفة واحدة. استخدم JB-750 لمختبرات الاعتماد التي تتطلّب دقّة من فئة PMT.
أحتاج فحصاً في الموقع دون قطع العيّنات.
استخدم F6000 Pro (XRF) لتعريف الدرجة بسرعة وغير متلف دون الكربون. استخدم F7000 Pro (LIBS) للعناصر الخفيفة (Mg و Si و Be) أو لتجنّب تنظيم الأشعة السينية. استخدم Surpass F1 (OES متنقّل) عند الحاجة لقياس الكربون والكبريت في الموقع.
أحتاج قياس الكربون والكبريت في الصلب أو الخام.
CS995 هو الخيار المكتبي الأساسي (115 كغ، خليّة C وأخرى S، نطاق من 0.0005 %). CS996 أرضي بخلايا قابلة للتوسعة (من 0.0001 %). CS2020 هو الراقي بأربع خلايا وتنظيف آلي للمختبرات عالية الإنتاجية.
أحتاج تحليل الأكسجين والنيتروجين والهيدروجين.
ONH-508 هو الموديل الوحيد هنا الذي يعالج O و N و H في وقت واحد عبر الانصهار في غاز خامل داخل فرن نبضي بالأقطاب. تطبيقاته الشائعة: التيتانيوم والزركونيوم وسبائك الأتربة النادرة والصلب منزوع الأكسجين.
ما المدد الزمنية والضمانات؟
تكوينات OES و C/S المتوفّرة في المخزون تُشحَن خلال 15 يوم عمل. JB-750 (PMT) و ONH-508 المصنوعان حسب الطلب: 30 يوم عمل. ضمان 12 شهراً على القطع واليد العاملة قابل للتمديد إلى 24 شهراً.
لست متأكّداً أيّ موديل يناسب تطبيقك؟
أرسل لنا مصفوفة العيّنة والعناصر المستهدفة وحجم الإنتاج عبر واتساب — يردّ المهندسون خلال 4 ساعات عمل بتوصية وعرض سعر ومدّة تسليم.
محادثة عبر واتساب · +86 181 1891 5721